不同频率测出来的同一个样品的莫特肖特基曲线有什么区别

频率设置为5HZ。M-S测试（莫特肖特基曲线测试），是在一个线性电位扫描过程中叠加一个固定频率的交流阻抗测试，这个交流频率一般选择5-20kHz，严格讲，不同样品可以先测试不同频率的情况，一般选择5kHz。

相反，如果切线斜率为负，意味着样品为p型半导体，此时Efb会位于价带Ecb之上，计算出的数值会相应减小。当正负斜率同时存在，可能暗示样品内部存在PN结异质结构。数据处理的艺术：解读M-S曲线 虽然不同方法得出的价带数值可能存在差异，这是正常现象，关键在于根据实际样品特性及审稿人的要求做出明智选择。

频率变化发生弥散现象。莫特肖特基曲线测试出现散点原因是频率变化发生弥散现象导致的，莫特-肖特基曲线测试（M-S测试），是在一个线性电位扫描过程中叠加一个固定频率的交流阻抗测试，这个交流频率通常选择5-20kHz。

莫特肖特基曲线斜率意义

p型半导体的莫特肖特基曲线斜率大小说明分离效率。根据查询相关公开信息，电流越大，分离效率约好。n型还是p型半导体要用到莫特肖特基测试，曲线斜率为正就是n型，为负就是p型。

M-S测试（莫特肖特基曲线测试），是在一个线性电位扫描过程中叠加一个固定频率的交流阻抗测试，这个交流频率一般选择5-20kHz，严格讲，不同样品可以先测试不同频率的情况，一般选择5kHz。

肖特基曲线是个直线的原因是由于金属半导体接触与欧姆接触和肖特基接触之间的关系形成了对应的电流至电压曲线为一条直线，根据欧姆定律分析即可。

莫特肖特基串联还是并联

都可以。为保险起见，最好是将肖特基二极管并联或串联使用，以便略微分散应力。莫特-肖特基（Mott-Schottky）技术是指在同一频率下从初始电位到最终电位按照阶跃电位大小进行扫描的一项技术。

M-S测试（莫特肖特基曲线测试），是在一个线性电位扫描过程中叠加一个固定频率的交流阻抗测试，这个交流频率一般选择5-20kHz，严格讲，不同样品可以先测试不同频率的情况，一般选择5kHz。

观察电流和电压的关系。根据查询百度文库得知，莫特肖特基是一种用于判断半导体材料类型（p型或n型）的方法。在莫特肖特基测试中，样品与参比电极之间施加一定的电压，测量样品与参比电极之间的电流，以及电流与电压之间的关系。

根据CdS的莫特肖特基曲线（M-S）和紫外-可见漫反射光谱（DRS）结果，CdTe的XPS价带谱及Aux@GSH NCs的紫外-可见吸收光谱和循环伏安法（CV）结果可知，CdS导带（CB）位置比Aux@GSH NCs的LUMO位置更负。这表明，CdS激发的光生电子可自发地迁移至Aux@GSH NCs的LUMO。

关于M-S测量中两个不同线性区域的问题，文献中的一般解释是存在多个施主能级。